4-8. 混合信號測試方案 - MS系列 ( 4 Analog + 18或36 Digital Channels )

此測試方案最多可同時4組類比通道與32組數位通道，因此對於16位元嵌入式控制器可以同時觀察16通道ADDR與16通道DATA，或者觀察許多ADDR與DATA，另外再捕捉控制信號與低速串列數據 ( SPI, I²C )，因此不必為了取得不同狀態之信號而持續更換測試點進而提高測試效率

·  最多可同時觀察與分析36通道數位信號

·  長擷取時間 ( 每組數位通到配置10M或50M記憶點數 )

·  時脈擷取頻寬達250MHz/500MHz

·  設計簡易操作選單與使用介面

電子型錄下載